Číslo produktu výrobce:
SN74LVTH18646APM
Product Overview
Výrobce:
Texas Instruments
Číslo dílu:
SN74LVTH18646APM-DG
Popis:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Podrobný popis:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventář:
305 Ks Nový Originál Skladem
1862955
Žádost o cenovou nabídku
Množství
Minimálně 1
Minimálně 1
(*) je povinné
Ozveme se vám do 24 hodin
Ozveme se vám do 24 hodin
Odeslat
SN74LVTH18646APM Technické specifikace
Kategorie
Logika, Specializovaná logika
Výrobce
Texas Instruments
Balení
Tray
Řada
74LVTH
Stav produktu
Active
Typ logiky
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Napájecí napětí
2.7V ~ 3.6V
Počet bitů
18
Provozní teplota
-40°C ~ 85°C
Typ montáže
Surface Mount
Balení / pouzdro
64-LQFP
Balíček zařízení dodavatele
64-LQFP (10x10)
Základní číslo výrobku
74LVTH18646
Technický list a dokumenty
Katalogové listy
Další informace
Standardní balíček
160
Další jména
-296-8703-DG
-296-8703
-SN74LVTH18646APMG4
2156-SN74LVTH18646APM
296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APM-NDR
296-8703
SN74LVTH18646APMG4
SN74LVTH18646APMG4-DG
TEXTISSN74LVTH18646APM
-296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APMG4-NDR
Klasifikace životního prostředí a exportu
Stav RoHS
ROHS3 Compliant
Úroveň citlivosti na vlhkost (MSL)
3 (168 Hours)
Stav nařízení REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Certifikace
Související produkty
SN74LVTH18646APMG4
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74TVC3010DBQR
IC PROG V CLAMP 24-QSOP
V62/04730-01XE
ENHANCED PRODUCT 3.3-V ABT SCAN